4XB ভূমিকা
4XB বাইনোকুলার ইনভার্টেড মেটালোগ্রাফিক মাইক্রোস্কোপ বিভিন্ন ধাতু এবং সংকর ধাতুর গঠন সনাক্ত এবং বিশ্লেষণ করতে ব্যবহৃত হয়।এটি মেটালোগ্রাফিক স্ট্রাকচার এবং পৃষ্ঠের আকারবিদ্যার মাইক্রোস্কোপিক পর্যবেক্ষণের জন্য উপযুক্ত।
পর্যবেক্ষণ ব্যবস্থা
যন্ত্রের ভিত্তির সমর্থন ক্ষেত্রটি বড়, এবং বাঁকা বাহু দৃঢ়, যাতে যন্ত্রের মাধ্যাকর্ষণ কেন্দ্র কম এবং স্থিতিশীল এবং নির্ভরযোগ্য।যেহেতু আইপিস এবং সমর্থন পৃষ্ঠটি 45° এ ঝুঁকে আছে, তাই পর্যবেক্ষণটি আরামদায়ক।
যান্ত্রিক পর্যায়
অন্তর্নির্মিত ঘূর্ণনযোগ্য বৃত্তাকার স্টেজ প্লেট সহ যান্ত্রিকভাবে চলমান মঞ্চ।অভ্যন্তরীণ গর্ত φ10mm এবং φ20mm সহ দুটি ধরণের ট্রে রয়েছে।
আলোক ব্যবস্থা
পরিবর্তনশীল লাইট বার, 6V20W হ্যালোজেন ল্যাম্প লাইটিং, সামঞ্জস্যযোগ্য উজ্জ্বলতা সহ কোহলার লাইটিং সিস্টেম গ্রহণ করুন।AC 220V (50Hz)।
4XB কনফিগারেশন টেবিল
| কনফিগারেশন | মডেল | |
| আইটেম | স্পেসিফিকেশন | 4XB |
| অপটিক্যাল সিস্টেম | ইনফিনিটি অপটিক্যাল সিস্টেম | · |
| পর্যবেক্ষণ টিউব | বাইনোকুলার টিউব, 45° বাঁক। | · |
| আইপিস | ফ্ল্যাট ফিল্ড আইপিস WF10X(Φ18mm) | · |
| ফ্ল্যাট ফিল্ড আইপিস WF12.5X(Φ15mm) | · | |
| ফ্ল্যাট ফিল্ড আইপিস WF10X(Φ18 মিমি) ক্রস ডিফারেন্সিয়েশন রুলার সহ | O | |
| উদ্দেশ্য লেন্স | অ্যাক্রোম্যাটিক উদ্দেশ্য 10X/0.25/WD7.31 মিমি | · |
| সেমি-প্ল্যান অ্যাক্রোম্যাটিক উদ্দেশ্য 40X/0.65/WD0.66mm | · | |
| অ্যাক্রোম্যাটিক উদ্দেশ্য 100X/1.25/WD0.37 মিমি (তেল) | · | |
| রূপান্তরকারী | চার-গর্ত রূপান্তরকারী | · |
| ফোকাসিং মেকানিজম | সমন্বয় পরিসীমা: 25 মিমি, স্কেল গ্রিড মান: 0.002 মিমি | · |
| মঞ্চ | ডাবল-লেয়ার মেকানিক্যাল মোবাইল টাইপ (আকার: 180mmX200mm, মুভিং রেঞ্জ: 50mmX70mm) | · |
| আলোক ব্যবস্থা | 6V 20W হ্যালোজেন বাতি, উজ্জ্বলতা সামঞ্জস্যযোগ্য | · |
| রঙ ফিল্টার | হলুদ ফিল্টার, সবুজ ফিল্টার, নীল ফিল্টার | · |
| সফ্টওয়্যার প্যাকেজ | মেটালোগ্রাফিক বিশ্লেষণ সফ্টওয়্যার (সংস্করণ 2016, সংস্করণ 2018) | O |
| ক্যামেরা | মেটালোগ্রাফিক ডিজিটাল ক্যামেরা ডিভাইস (5 মিলিয়ন, 6.3 মিলিয়ন, 12 মিলিয়ন, 16 মিলিয়ন, ইত্যাদি) | |
| 0.5X ক্যামেরা অ্যাডাপ্টার | ||
| মাইক্রোমিটার | উচ্চ-নির্ভুল মাইক্রোমিটার (গ্রিড মান 0.01 মিমি) | |
বিঃদ্রঃ:"·"মান"O"ঐচ্ছিক
